DDR應用現狀

隨著近十年以來智能手機、智能電視、AI技術的風起云涌，人們對容量更高、速度更快、能耗更低、物理尺寸更小的嵌入式和計算機存儲器的需求不斷提高，DDR SDRAM也不斷地響應市場的需求和技術的升級推陳出新。

目前，用于主存的DDR SDRAM系列的芯片已經演進到了DDR5了，但市場上對經典的DDR3 SDRAM的需求仍然比較旺盛。

測試痛點

測試和驗證電子設備中的DDR內存，客戶一般面臨三大難題：

1.如何連接DDR內存管腳；

2.如何探測和驗證突發的讀寫脈沖信號；

3.配置測試系統完成DDR內存一致性測試。

泰克測試方案

為解決研發人員在DDR內存系統研發、調試和驗證測試的難題，推薦配置基于MSO64B示波器的內存調試及一致性測試系統，主要功能如下：

-完整的覆蓋DDR3和LPDDR3規范測試的項目

--自動實現突發Write/Read信號分離，可以在同一次采集數據中完成參數測試；

-對控制器端可以自定義修改電平門限，適用不同存儲接口的設計；

-支持CMD總線解碼，更加直觀的反應內存總線讀寫時序；

-同時兼顧標準化測試和單項調試，可以用于產品調試和驗證環節；

-自動生成一致性測試報告，匯總測試數據和關鍵波形截圖

-TDP77系列三模探頭，提供DDR測試專用FLEXB柔性連接附件，針對DDR芯片/顆粒狹小空間設計，配合Interposer完成各種類型DDR芯片的信號連接

系統中的MSO6B示波器是全新一代高精度/多通道信號采集與分析設備，具有12bits高分辨率ADC，uV級的本底噪聲和50Gs/s高采樣率，準確捕獲和分析DDR讀寫和控制信號FlexChannel技術通過TLP058探頭可以靈活將任一模擬通道轉變為8路數字通道，實現數字通道測試。

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使用泰克DDR測試系統，工程師可以享受到如下便利：

-無需參考復雜的JEDEC規范，快速測試關鍵指標系統參數，找到系統潛在風險；泰克提供與JEDEC聯合發布的測試MOI，指導使用者輕松完成信號連接、儀器設置與全自動或手動測試。

-通過探頭可以將系統工作時的波形準確的采集下，提供最直接最深入的信號接口時序/幅度信息，無需設置特定的測試場景；

-對特殊場景下DDR/LPDDR的應用提供測試能力，可以確保系統性能的前提下找到芯片工作的極限條件；

-無需人工進行READ/WRITE的區分，全自動軟件判斷，或者通過CMD總線進行聯合調試，發現潛在的時序風險；

核心技術指標

1. 模擬通道數：不小于4通道

2. 帶寬：不低于8GHz

3. 最高采樣率：不小于50Gs/s

4. 垂直分辨率：不小于12bits（硬件，非軟件實現）

5. 數字通道數：可支持32路數字通道

6. 本底噪聲 (50Ω阻抗，4GHz，1mV/div，RMS) ：不大于100μV

7. 可視化觸發：支持20個用戶繪制區域的軟件觸發

8. 支持DDR3分析與調試功能，支持用戶定義DDR速率

9. 支持自動DDR3一致性測試功能

10. 支持limit極限測試，支持用戶自定義極限；支持自定義測試循環次數

11. 提供4只帶寬不小于1GHz，電容不大于4pF無源高阻探頭

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總結

以上是生活随笔為你收集整理的ddr读时序波形_测试新体验|如何解决DDR内存系统测试难题？的全部內容，希望文章能夠幫你解決所遇到的問題。

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