上一節(jié)中我們說(shuō)了Halcon的一個(gè)例程，ball_seq.hdev檢測(cè)環(huán)形邊界，代碼比較長(zhǎng)，中間很多代碼的作用是為了提高代碼的魯棒性，我們初學(xué)者可以省略一些代碼，下面打開(kāi)Halcond的這個(gè)例程，再創(chuàng)建一個(gè)空白項(xiàng)目，我們?cè)诖a的基礎(chǔ)上來(lái)簡(jiǎn)化，然后導(dǎo)出。

打開(kāi)例程

再重新創(chuàng)建一個(gè)新項(xiàng)目，最好電腦有兩個(gè)顯示器，這樣看起來(lái)比較方便

1.加載圖片

例程中加載圖片的時(shí)候重新關(guān)閉了窗口，按照?qǐng)D片的比例再重新打開(kāi)顯示，這里我們直接顯示，這和我們的檢測(cè)框架里的機(jī)制是一樣的。

例程代碼如下

總結(jié)

以上是生活随笔為你收集整理的HALCON联合C#检测表面缺陷——检测缺陷原理（三）的全部?jī)?nèi)容，希望文章能夠幫你解決所遇到的問(wèn)題。

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