本發明涉及ddr內存領域，尤其涉及一種通過soc測試ddr內存穩定性的方法。

背景技術：

在嵌入式系統中，隨著ddr內存的頻率越來越高，ddr內存對系統的要求也越來越高，ddr內存讀寫的時間也越來越小，很容易出現ddr讀寫的錯誤，造成系統死機，只有ddr內存的穩定性高才能防止ddr讀寫出現錯誤；現在主要是通過兩種方法來測試嵌入式系統中ddr內存的穩定性：1.通過老化煲機來測試ddr內存的穩定性，這種測試方法需要耗費大量的時間，并且無法判斷ddr內存余量是否足夠；2.把pcb板寄回ddr內存廠商進行各項參數測試，這種測試方法花費高、耗時長，并且也無法避免pcb板的板材不同造成的差異；如何快速、低成本測試嵌入式系統中ddr內存的穩定性成為了業績難題。

技術實現要素：

為了解決上述問題，本發明提出一種通過soc測試ddr內存穩定性的方法。

本發明通過以下技術方案實現的：

本發明提出一種通過soc測試ddr內存穩定性的方法，soc對ddr進行讀寫，以dqs作為時鐘，通過soc調整dqs來找到ddr讀寫時dqs的setuptime和holdtime，所述通過soc測試ddr內存穩定性的方法包括如下步驟：

s1：通過soc將dqs默認寄存器的值設置為b，逐個單位左移，當移動到a-1個單位出現ddr讀寫錯誤時，取a為左邊界；

s2：通過soc將dqs默認寄存器的值還原為b，逐個單位右移，當移動到c+1個單位出現ddr讀寫錯誤時，取c為右邊界；

s3：通過公式[(b-a+1)*ddr對應頻率下的時長]計算出dqs讀寫的setuptime；通過公式[(c-b+1)*ddr對應頻率下的時長]計算出dqs讀寫的holdtime。

進一步的，dqs讀寫的setuptime與dqs讀寫的holdtime的總和越接近ddr時鐘的二分之一數值，說明ddr穩定性越高。

進一步的，dqs讀寫的setuptime與dqs讀寫的holdtime差值越小，說明ddr穩定性越高。

進一步的，當dqs讀寫的setuptime和dqs讀寫的holdtime均大于80ps時，說明ddr穩定性高。

本發明的有益效果：

1.本發明提出的通過soc測試ddr內存穩定性的方法能夠快速的測試出ddr內存的穩定性。

2.本發明提出的通過soc測試ddr內存穩定性的方法通過軟件即可進行測試，測試過程中系統負載較大，更加符合實際應用的要求。

附圖說明

圖1為本發明的通過soc測試ddr內存穩定性的方法的步驟示意圖。

具體實施方式

為了更加清楚、完整的說明本發明的技術方案，下面結合附圖對本發明作進一步說明。

請參考圖1，本發明提出一種通過soc測試ddr內存穩定性的方法，soc對ddr進行讀寫，以dqs作為時鐘，通過soc調整dqs來找到ddr讀寫時dqs的setuptime和holdtime，所述通過soc測試ddr內存穩定性的方法包括如下步驟：

s1：通過soc將dqs默認寄存器的值設置為b，逐個單位左移，當移動到a-1個單位出現ddr讀寫錯誤時，取a為左邊界；

s2：通過soc將dqs默認寄存器的值還原為b，逐個單位右移，當移動到c+1個單位出現ddr讀寫錯誤時，取c為右邊界；

s3：通過公式[(b-a+1)*ddr對應頻率下的時長]計算出dqs讀寫的setuptime；通過公式[(c-b+1)*ddr對應頻率下的時長]計算出dqs讀寫的holdtime。

在本實施方式中，soc全稱為：芯片級系統，systemonchip；ddr全稱為：ddrsdram(doubledataratesdram，雙倍速率sdram)；在實際檢測過程中，將所述通過soc測試ddr內存穩定性的方法的步驟s1至步驟s3編譯成測試腳本，在bootloader下運行測試腳本即可自動測試出dqs讀寫的setuptime和dqs讀寫的holdtime，所述通過soc測試ddr內存穩定性的方法能夠快速的測試出ddr內存的穩定性；分別測試soclane0至lane3的dqs讀寫的setuptime和dqs讀寫的holdtime，根據dqs讀寫的setuptime和dqs讀寫的holdtime即可判斷出ddr內存的穩定性；所述通過soc測試ddr內存穩定性的方法通過軟件即可進行測試，測試過程中系統負載較大，更加符合實際應用的要求。

進一步的，dqs讀寫的setuptime與dqs讀寫的holdtime的總和越接近ddr時鐘的二分之一數值，說明ddr穩定性越高。

在本實施方式中，dqs讀寫的setuptime與dqs讀寫的holdtime的總和越大則說明ddr穩定性越高，一般情況下dqs讀寫的setuptime與dqs讀寫的holdtime的總和小于ddr時鐘的二分之一數值，如果dqs讀寫的setuptime與dqs讀寫的holdtime的總和越接近ddr時鐘的二分之一數值，則說明ddr穩定性更高。

進一步的，dqs讀寫的setuptime與dqs讀寫的holdtime差值越小，說明ddr穩定性越高。

在本實施方式中，能夠根據dqs讀寫的setuptime與dqs讀寫的holdtime來調整dqs默認寄存器的值，使dqs讀寫的setuptime與dqs讀寫的holdtime差值變小進而提高ddr的穩定性。

進一步的，當dqs讀寫的setuptime和dqs讀寫的holdtime均大于80ps時，說明ddr穩定性高。

在本實施方式中，ps是單位皮秒的簡寫；當dqs讀寫的setuptime和dqs讀寫的holdtime均大于80ps時，說明ddr穩定性高，ddr有足夠的余量應付各種系統問題。

當然，本發明還可有其它多種實施方式，基于本實施方式，本領域的普通技術人員在沒有做出任何創造性勞動的前提下所獲得其他實施方式，都屬于本發明所保護的范圍。

總結

以上是生活随笔為你收集整理的ddr老化测试_一种通过SOC测试DDR内存稳定性的方法与流程的全部內容，希望文章能夠幫你解決所遇到的問題。

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