Intel PowerVia背面供电测试成功!“2nm”工艺见、频率提升6%
2021年,Intel宣布了全新的制造工藝路線圖,包括Intel 7、4、3、20A、18A,其中20A、18A將引領(lǐng)進(jìn)入埃米時(shí)代,并同時(shí)采用PowerVia背面供電、RibbonFET全環(huán)繞柵極兩大全新技術(shù)。
快科技6月6日消息,Intel官方宣布,率先在代號(hào)為“Blue Sky Creek”產(chǎn)品級(jí)測(cè)試芯片上實(shí)現(xiàn)了背面供電技術(shù),將于2024年上半年在Intel 20A工藝節(jié)點(diǎn)上正式落地。
傳統(tǒng)的正面供電技術(shù),信號(hào)走線、供電走線都位于晶圓的正面,需要共享甚至爭(zhēng)奪每一個(gè)金屬層的資源,必須竭力擴(kuò)大金屬層引腳間距,進(jìn)而增加成本和復(fù)雜度。
背面供電技術(shù),則將信號(hào)走線、供電走線分離,后者轉(zhuǎn)移到晶圓背面,可以分別單獨(dú)優(yōu)化,帶來更高性能、更低成本,不過也面臨良品率、可靠性。散熱、調(diào)試等各方面的挑戰(zhàn)。
為了加速研發(fā),Intel選擇了PowerVia、RibbonFET兩項(xiàng)技術(shù)分開研發(fā)的方式,率先推進(jìn)的就是PowerVia。
Intel通過測(cè)試證實(shí),PowerVia技術(shù)確實(shí)能顯著提高芯片的使用效率,大部分區(qū)域的標(biāo)準(zhǔn)單元利用率都超過了90%,同時(shí)晶體管體積大大縮小,單元密度大大增加,因此能顯著降低成本。
同時(shí),PowerVia已在測(cè)試中達(dá)到了相當(dāng)高的良率和可靠性指標(biāo),證明了這一技術(shù)的預(yù)期價(jià)值。
測(cè)試還顯示,PowerVia將平臺(tái)電壓降低了30%,并帶來了6%的頻率增益。
為了應(yīng)對(duì)這種全新的晶體管供電方式,Intel開發(fā)了全新的散熱技術(shù),展示了良好的散熱特性,可避免出現(xiàn)過熱。
同時(shí),調(diào)試團(tuán)隊(duì)也開發(fā)了新技術(shù),確保這種新的晶體管設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)在調(diào)試中出現(xiàn)的各種問題都能得到適當(dāng)解決。
,Intel PowerVia技術(shù)的測(cè)試芯片采用了Intel 4制造工藝,22個(gè)金屬層,單個(gè)核心面積僅為2.9平方毫米,1.1V電壓下達(dá)到了3GHz頻率。
總結(jié)
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