Detectron-MaskRCnn:Mask判别和获取前向Mask的标签
??????? 對(duì)于FCN-SceneParse網(wǎng)絡(luò),最后卷積生成N個(gè)類別的maps,每個(gè)Map都得到圖像所有點(diǎn)的單類概率。MaskRCNN的結(jié)構(gòu)與FCN不相同。
?????? 參考三個(gè)文章:
?????? Detectron總結(jié)1:Blob的生成 和 generate proposal?
?????? Detectron總結(jié)2:前向生成數(shù)據(jù)標(biāo)簽的過程
?????? Detectron總結(jié)3:參數(shù)設(shè)置,直接打開cfg文件,找到train進(jìn)行設(shè)置
?????? Detectron總結(jié)4:Detectron測(cè)試流程(含Mask和KeyPoint)
??????
獲取多個(gè)Mask:
?????? 對(duì)于預(yù)測(cè)的二值掩膜輸出,我們對(duì)每個(gè)像素點(diǎn)應(yīng)用sigmoid函數(shù),整體損失定義為平均二值交叉損失熵。 引入預(yù)測(cè)K個(gè)輸出的機(jī)制,允許每個(gè)類都生成獨(dú)立的掩膜,避免類間競(jìng)爭(zhēng)。這樣做解耦了掩膜和種類預(yù)測(cè)。不像是FCN的方法,在每個(gè)像素點(diǎn)上應(yīng)用softmax函數(shù),整體采用的多任務(wù)交叉熵,這樣會(huì)導(dǎo)致類間競(jìng)爭(zhēng),最終導(dǎo)致分割效果差。
????? 代碼段:
獲取每一個(gè)圖像Mask
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總結(jié)
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