1、開啟ADC以后，延時一段時間，再采樣，如果是連續采樣的話，開始的幾百個數據建議丟棄。原因就是開啟ADC的瞬間，電壓肯定是在波動狀態的，這個時候采樣肯定有問題。

2、過采樣。如果采樣頻率高于信號最高頻率的兩倍，這種采樣被稱為過采樣。（奈奎斯特采樣定理-香農采樣定理）
即盡可能快地采樣數據，比如之前是1s采1次，現在做成100ms采1次，并把緩存10次的數據求平均。

3、使用基準電壓，可以用外部基準電壓或者內部基準電壓。

4、提高電源穩定性，模擬電源VDDA單獨供電。

5、硬件上在模擬輸入端加濾波電路。

6、選擇合適的ADC外設的時鐘頻率。

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20210801補充：
常規的程序運行時都是在初始階段進行各外設包括ADC的初始化操作，而其中的自校準操作要注意使用的基準電壓已經穩定，且內部電壓都已穩定。即可能需要在上電后進行一定延時再進行ADC自校準操作。

參考：
https://www.cnblogs.com/wy9264/p/12994974.html

總結

以上是生活随笔為你收集整理的MCU提高ADC采样精度的几种方案的全部內容，希望文章能夠幫你解決所遇到的問題。

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