摘要

故障診斷是集成電路領(lǐng)域中的重要研究方向，基于測試激勵(lì)集方法求解候選故障診斷是目前較為高效的診斷方法，而GTreord是目前具有較高診斷準(zhǔn)確性的方法.在對GTreord方法深入研究的基礎(chǔ)上，本文依據(jù)測試激勵(lì)與候選故障診斷解之間的結(jié)構(gòu)特征，通過分析電路故障輸出響應(yīng)，提出結(jié)合結(jié)構(gòu)特征的測試激勵(lì)集重排序的候選診斷（Reordering Test Default Diagnosis，RTDD）方法.根據(jù)測試激勵(lì)對生成候選故障診斷解集合的影響程度的不同，提出測試分?jǐn)?shù)概念；通過比較電路的實(shí)際故障輸出響應(yīng)、無故障輸出響應(yīng)、模型故障輸出響應(yīng)，計(jì)算出測試激勵(lì)的測試分?jǐn)?shù).測試激勵(lì)集依據(jù)測試分?jǐn)?shù)進(jìn)行重排序，并將重排序后的測試激勵(lì)集用于故障診斷.實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明，與GTreord方法相比，RTDD方法提高了測試激勵(lì)集重排序的效率，求解時(shí)間提高1~4個(gè)數(shù)量級；此外，在保障同樣診斷準(zhǔn)確性的情況下，RTDD方法有效減少了所需測試的激勵(lì)個(gè)數(shù).

關(guān)鍵詞： 故障診斷 ; 測試分?jǐn)?shù) ; 測試激勵(lì)集重排序

1 引言

隨著現(xiàn)代半導(dǎo)體工業(yè)的迅猛發(fā)展，如今集成電路

總結(jié)

以上是生活随笔為你收集整理的结合结构特征基于测试集重排序的故障诊断方法的全部內(nèi)容，希望文章能夠幫你解決所遇到的問題。

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