软件测试缺陷发生方法,软件测试缺陷分析方法简介
DRE/DRM分析法
DRE/DRM分析法是通過已有項(xiàng)目歷史數(shù)據(jù),得到軟件生命周期各階段缺陷注入和排除的模型,用于設(shè)定各階段質(zhì)量目標(biāo),評(píng)估測(cè)試活動(dòng)。
缺陷排除效果分析DRE矩陣:
DRE主要針對(duì)歷史數(shù)據(jù),矩陣的每一列代表缺陷在何時(shí)(什么階段)引入(產(chǎn)生),每一行代表發(fā)現(xiàn)缺陷時(shí)開展的工作。矩陣中的數(shù)值代表已經(jīng)發(fā)現(xiàn)的缺陷數(shù)量。例如:在做代碼審查工作時(shí)發(fā)現(xiàn)1095條缺陷,其中12條是在需求階段就已經(jīng)產(chǎn)生,941條是在編碼階段產(chǎn)生。而經(jīng)過各項(xiàng)測(cè)試工作后,發(fā)現(xiàn)的缺陷中有1537條是在編碼階段引入。
本矩陣的目標(biāo)是要分別計(jì)算出各個(gè)階段的缺陷移除率為后面所用。缺陷移除率的定義為當(dāng)前階段工作實(shí)際發(fā)現(xiàn)的缺陷數(shù)量占當(dāng)前階段應(yīng)該發(fā)現(xiàn)的缺陷數(shù)量的比值。例如:做單元測(cè)試時(shí)實(shí)際發(fā)現(xiàn)332條缺陷,在單元測(cè)試及之前階段應(yīng)該已經(jīng)發(fā)現(xiàn)122+859+939+1537+2=3459條缺陷,而在做單元測(cè)試工作之前已經(jīng)發(fā)現(xiàn)730+729+1095=2554條缺陷。就是說單元測(cè)試工作本該可以發(fā)現(xiàn)到3459-2554=905條缺陷,實(shí)際卻發(fā)現(xiàn)332條缺陷,缺陷移除率為332/905=36.7%。其他階段的缺陷移除率依此算法都可得到。
下面就可以用DRM缺陷排除模型進(jìn)行項(xiàng)目質(zhì)量策劃。
其中“前一階段泄露的缺陷”等于上一階段“階段出口缺陷數(shù)”。每個(gè)階段的“注入缺陷”一般來自于歷史數(shù)據(jù)的平均值(經(jīng)驗(yàn)值)。“缺陷排除有效率”同樣來自于對(duì)歷史數(shù)據(jù)的計(jì)算(前面已經(jīng)提到)。“排除缺陷數(shù)”為我們最終想要的結(jié)果,它等于每個(gè)階段還未排除的缺陷數(shù)(小計(jì)部分)與此階段的缺陷排除有效率的乘積。從這個(gè)結(jié)果我們能估算出如果按之前的經(jīng)驗(yàn)我們?cè)诿總€(gè)階段應(yīng)該能發(fā)現(xiàn)的缺陷數(shù)。如果想降低最終“現(xiàn)場”階段發(fā)現(xiàn)的缺陷,在每個(gè)階段注入缺陷一定的情況下需要提高缺陷排除有效率來達(dá)到目的,它的提高意味著每個(gè)階段排除缺陷數(shù)量的提高,也是質(zhì)量目標(biāo)的提高。
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總結(jié)
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