EMI
7.3 SPI接口數字串擾
MCP3912具有一個高速20MHZSPI數字接口。如果 在沒有任何防范措施的情況下全速運行,該接口會產 生串擾,特別是對于靠外側的通道(如CH0)o串擾 是由數字SPI信號產生的開關噪聲引起的(也稱為地 彈反射)。在這種情況下,這種串擾會對SNR產生不 利影響。如果在模擬和數字電源之間采取適當的隔離 措施,可以衰減這種噪聲(見第7.2節“電源設計和 旁路”)。
為了進一步消除SPI通信對測量精度的影響,建議在 SPI線路上添加串聯電阻,以減少由數字開關噪聲引 起的電流毛刺(見圖7?5,其中采用了這些電阻)。這 些電阻也有助于保持很低的電磁輻射水平。
MCP3912數據手冊中提供的測量圖是在每個SPI I/O引 腳連接100Ω串聯電阻的情況下獲得的。即使在20 MHz 接口的全速操作下,也未觀察到測量精度干擾。
由于引腳排列方面的差異(雙列直插或四方),串擾性 能會依賴于封裝選擇,在QFN-28封裝中會有所改善。
圖7?5給出了一個直接連接高電壓線路(例如,雙線 120V或220V系統)的更詳細示例。在同時為系統提 供接地的高側/線路側,使用一個電流檢測分流器來進 行電流測量。這是必需的,因為該分流器直接連接到 MCP3912的通道輸入引腳。為了降低對外部影響(如 EMI)的敏感性,這兩條線應構成雙絞線,如圖7.5所 注。電源和MCU分別位于PCB右側,由數字地平面 包圍。MCP3912位于左側,由模擬地平面包圍。有兩 個獨立的電源送到系統的數字部分和模擬部分(包括 MCP3912)。使用這種布局時,存在兩個獨立的電流 供應路徑和電流返回路徑:Ia和Id。
數字和模擬地平面之間的鐵氧體磁珠有助于阻止高頻噪聲進入器件。建議該鐵氧體磁珠為低電阻;通常它是一個 THT 元件。鐵氧體磁珠通常放在分流器輸入端,并放入電源電路來提供額外的保護。
總結
- 上一篇: ElementUI Card组件触发点击
- 下一篇: uniapp组件-Card卡片