報告顯示，預計2013年全球LTE用戶將達到1.4億，2017年將達到9.2億。而TD-LTE用戶，到2016年將增加到1.5億戶，約占全球LTE用戶總數25%。在中國市場LTE智能手機有望在2013年逐步成熟，并在2014年走向大眾市場。

LTE?多頻段下?手機量產速度面臨挑戰

當前終端產品支持的通信協議越來越多，LTE終端產品的測試項目比2G、3G多出近百項。不僅無線制式在增加，終端支持的頻段也在增加。這對生產測試提出了更高的要求，測試項目和測試時間達以前的數倍。測試時間的增加意味著測試成本的提高，促使芯片和終端廠商尋求減少產品測試時間與儀器投資成本的方法。

圖1 目前智能手機覆蓋的功能

在生產手機時，傳統的信令測試每一臺手機都必須通過驗證測試以及檢驗，非常耗費時間。受于成本壓力，目前這類測試流程將逐漸從傳統的信令測試，轉型成非信令測試，再進一步轉變成快速序列非信令測試。根據多家廠商的數據，非信令生產測試時間可加快50%以上，相信未來手機生產測試模式將大舉從信令(Signaling)轉變至非信令(Non-signaling)。

圖2 信令測試、非信令測試、快速序列非信令測試對比圖

幫助終端制造商提升測試效率、降低測試成本，一直是測試與測量廠商追求的目標。微波射頻網最近專訪了多家測試測量廠商，就非信令測試技術及趨勢進行了廣泛的交流。

終端產品產測復雜化催生非信令測試

“盡管要市場完全接受非信令產測需要一個過程，但其一定是這個行業的發展方向。”
---艾法斯（亞洲）有限公司業務拓展經理路遙

艾法斯（亞洲）有限公司業務拓展經理路遙向微波射頻網介紹道，隨著4G技術引入多種無線技術于一身，未來的終端設備產測將越來越復雜，客戶面臨著巨大的測試成本壓力。當前測試成本最直接的表現就是單機所需的測試時間，倘若仍保留信令的產測方式，其成本是客戶無法承受的，這就為引入非信令測試帶來了時機。

路遙指出，在Qualcomm的引領下，全球各主流蜂窩移動通信芯片廠商均已支持非信令產測模式，包括：Broadcom、Marvell、Mediatek和ST-E等。同時，幾乎所有的二三線芯片廠商都在積極跟進，這一點在LTE技術上體現的尤為明顯，如：GCT、Sequans、Intel/Infineon和Altair等。而在WIFI、Bluetooth和GPS等移動互聯技術上，各大廠商早已將非信令模式引入生產環節，包括Broadcom、Atheros、TI、Marvell和MTK/Ralink等等。而經過幾年來在實際生產中的不斷檢驗與改進，非信令技術已趨于完善。

路遙進一步指出，在非信令測試上，儀表廠商也是越來越專注，并開始嘗試提供專門性的解決方案。

作為一家在射頻測試測量領域的專業公司，艾法斯為生產型客戶提供了非信令測試解決方案--PXI3000，這是一款基于PXI架構通用射頻測試平臺，該平臺不僅可以完美支持FDD/TDD-LTE相關的非信令測試，對其他最新的無線技術標準，如802.11ac等，同時實現了全覆蓋。

據了解，傳統測試測量儀器的功能是單一的，每一臺儀器只完成特定的功能，如信號源、頻譜儀和綜測儀等。而基于PXI架構的測試儀器則完全不同，它是模塊化的，就如搭積木，用戶可以根據自己的實際需要，使用通用的PXI模塊搭建出各類功能豐富的儀器。

路遙表示，艾法斯利用PXI3000系列模塊為客戶預定制出功能強大、性能優異的無線終端生產測試解決方案。基于PXI3000搭建的測試方案幾乎可以滿足用戶在無線終端生產環節所有的射頻測試需求。這一測試解決方案已經得到了全球范圍內的大規模商用，從全球頂級無線設備制造商到國內中小型手機廠家均有使用。PXI3000進入市場，測試顛覆了傳統的生產測試理念，極大地推動了生產測試向非信令方式的轉型。

最后，路遙強調，盡管要市場完全接受需要一個過程，但非信令產測一定是這個行業的發展方向。

多DUT非信令測試提速生產制造流程

“多DUT并行非信令測試解決方案，能夠使終端客戶的效能，投資利用率得到極大地提升”
---萊特波特市場部技術經理馬國華

萊特波特市場部技術經理馬國華表示，如今主流的手機芯片商都紛紛推廣非信令測試方案，提高各自終端客戶產品的生產制造效能，降低終端產品的制造成本，同時保持良好地產品質量。

馬國華告訴微波射頻網記者，如果采用傳統測試產品和方式，要想提高產出率，制造商只能去添置新測試設備或增加生產配套。然而，萊特波特為制造商提供了LitePoint IQxstream平臺，能夠實現4臺DUT（待測設備）同時并行測試，可將生產測試吞吐量提升3倍效率。IQxstream可以支持面向4G LTE 和LTE Advanced（超過100Mhz帶寬）所需要的更大帶寬，為生產測試領域長期平滑演進的需要提供了堅實的支撐。四部終端并行測試的創新設計以及非信令測試技術的采用，使得廠商可在不縮減測試要求情況下極大地增加產出，不但極大地減少了所需測試儀的數量，而且也相應大大減少了對于工廠空間和操作員數量的投入，有效地節約了成本。

馬國華分析，LTE帶來的挑戰主要來自于兩方面：更大的帶寬和更多的測試時間。LTE采用20MHz帶寬的數據信道，今后隨著LTE-Advanced技術的引入將擴展至100Mhz帶寬的信道。這樣就淘汰了很多不具備足夠帶寬的3G測試儀。LTE可以支持40多個頻段，這樣支持LTE和WCDMA的多模終端（全球型手機）將需要支持兩倍于當前僅支持3G智能手機終端所需要的頻段數量。如此一來，將使得測試手機所需時間翻倍，除非有更精良先進的測試方案引入。IQxstream可以支持兩套并行的VSA/VSG模塊，可以輕易擴展到多DUT的2X2 MIMO測試，以及LTE-A的載波聚合測試。目前LitePoint的IQVector測試解決方案可以覆蓋主流的LTE芯片，并提供產線級多DUT并行校準和終測的解決方案。

馬國華補充道，LitePoint在國內進行IQxstream的推廣經驗也表明，多DUT并行非信令測試方案是規模非信令測試的發展方向。在LitePoint進行多DUT非信令測試方案推廣過程中，越來越多的儀表廠商也加入了多DUT并行測試的潮流，紛紛推出對應的測試儀表加入非信令多DUT測試推廣的大潮中。LitePoint堅定認為，多DUT非信令測試，尤其是有完備測試解決方案的多DUT并行非信令測試解決方案，能夠使終端客戶的效能，投資利用率得到極大地提升。

非信令測試優勢明顯??但仍離不開信令模式

“在非信令測試理念下仍離不開信令模式?”
---羅德與施瓦茨（R&S）產品支持總監金海良

羅德與施瓦茨（R&S）產品支持總監金海良表示，手機生產測試正面臨越來越多的通信制式和頻段與越來越低的銷售價格之間的矛盾。若要兼顧完整測試項目與成本因素，就得改變產測儀器的使用方式。為此，R&S率先提出了許多提高生產測試效率的理念，如并行測試、快速校準、快速終測和非信令測試。這些技術已經逐步應用到生產測試中。

R&S大約在8、9年前跟一些芯片和手機廠商合作首次提出了非信令生產測試的概念，2006年R&S率先推出了非信令版本的CMU200（var. 30型號），并被許多國際手機廠商采用。正是因為這一點，新一代綜測儀CMW500剛推出時就全面支持非信令，為了適應不同的需求，該儀器既能支持信令也能支持非信令，而且兼顧創新和傳統的測試方法。

金海良解釋，由于在信令模式下測試射頻指標比在非信令下耗時，非信令測試的宗旨是把大量重復的射頻指標測試從信令模式移到非信令模式下測試。傳統的手機測試分射頻校準和最終測試兩站，前者在非信令模式下校準手機的收發信機，后者在信令模式下測試手機的射頻指標。非信令測試理念在當中插了一站而變為三站：射頻校準、射頻驗證和最終測試。射頻指標的測試從以往的最終測試站移到新增加的射頻驗證站。該站在非信令模式下以更優化的測試順序完成以往在信令下的射頻指標測試。在產線，射頻校準和射頻驗證可以并成一站，因為這兩站都是基于手機電路板連接射頻頭進行測試。之后電路板被裝配成整機，再進行最終測試。最終測試往往是在信令模式下用天線耦合測試，以模擬真實網絡的情況，重點驗證信令過程和確保裝配成整機時耳麥和天線安裝正常。

值得一提的是，當從信令模式轉為非信令模式時，儀器跟芯片廠商的配合會成為關鍵點。因為在信令模式下綜測儀模擬基站與被測手機建立呼叫后進行射頻測試，對芯片配合的依賴程度低；而在非信令模式下因為沒有信令過程因此對芯片配合的依賴程度很高。CMW500得到了所有LTE芯片廠商的支持，不論采用哪家芯片方案，都能用CMW500進行非信令測試。

另外，即便是提倡非信令測試的今天，生產測試環節還是需要信令的。為什么非信令測試理念下仍然離不開信令模式？金海良告訴微波射頻網記者，原因是非信令不能完全模擬真實網絡的情況。非信令跳過了高層協議，直接控制手機的物理層來進行收發信機測試，不過由于移動通信協議的復雜性，在實現的時候可能產生細微的差異，因此：

1、 新通信制式的早期生產基本都不采用非信令理念。本來新制式下芯片和終端的成熟穩定度就有待驗證，況且非信令和信令下終端行為可能有細微差別，為了穩妥起見，新制式下終端生產都采用傳統的兩站式而不用非信令的三站式測試，等后續產品成熟了再逐漸引入非信令模式。不論是2G、3G還是現在的LTE終端，基本都是采用這一平滑過渡思路。

2、 當產品成熟穩定后，可以采用非信令的三站式測試，把大量的射頻指標測試移到基于非信令的射頻驗證站，但是為了檢驗出廠的手機在真實網絡下的表現，在第三站最終測試站仍然采用信令模式。

總體來說，非信令測試的三站式理念結合信令和非信令的優勢，把射頻指標盡量移到非信令模式下測試，并優化測試順序和方法，是在確保產品質量的前提下降低成本提高生產效率的好方法，目前已經被國內外各大手機廠商所采用。但是需要注意的是，在非信令測試理念下，信令綜測儀仍然起著不可替代的作用。

非信令測試將逐漸成主流

“產業鏈的合作是非信令測試成功的先決條件”
---安捷倫電子儀器事業部高級市場工程師黃萍

安捷倫電子儀器事業部高級市場工程師黃萍在接受微波射頻網專訪時表示，目前移動設備中的無線功能主要包括2G/3G/LTE、藍牙、Wi-Fi和GPS。從終端生產測試市場看，為了追求更快的測試速度，芯片廠商不斷更新芯片測試模式，同時測試設備廠商與之配合讓手機的測試模式和綜測儀能協同工作，從而最終在產線上實現產能最大化。因此，產業鏈的合作是非信令測試成功的先決條件。在芯片支持的前提下，非信令測試能夠有效提高測試速率，已經成為許多生產制造廠商的必要選擇。這是產業鏈發展的必然趨勢。

黃萍解釋，在非信令測試中，待測設備(DUT)的芯片組在驗證測試中會被要求輸出跨越不同功率等級和頻率范圍的各種信號，這些預定義發射序列功能可以規范校準測試，縮減器件設置時間，進而縮減測試時間。

目前安捷倫終端非信令測試產品支持所有2G/3G和LTE的無線蜂窩制式，同時還可以方便的進行GPS的測量。根據不同的產測需求，安捷倫推出了非信令測試產品E6607 EXT系列，其中包括單機綜測儀E6607B、多端口測試適配器E6617A，以及最新推出的整合式多端口綜測儀E6607C，不同客戶可根據其產線的不同配置需求進行選擇。

以E6607C EXT-C為例，它內置了矢量信號分析、矢量信號發生、高速序列分析功能和 8個用于無線蜂窩制式的雙向輸入/輸出端口以及 4 個用于GNSS（全球導航衛星系統）測試的輸出端口，由于多端口并行測試裝置已經緊湊的集成在儀器內部，因此大大省去了繁雜的連接附件和復雜的連接工作，有效提高測試速率，同時又能節省生產線的空間和電力需求。為了在多部終端并行測量時也獲得高質量的非信令測試，儀器內部的校準模塊保證了各端口間的平衡度，動態路損補償功能自動消除了全信號通路和外部測試線纜及夾具給測量帶來的影響，從而保證了測試的準確性和一致性。

利用安捷倫信號分析儀的各項豐富的 X 系列測量技術，EXT系列為客戶提供了專為快速生產制造測試而設計的測量應用軟件，并針對最新無線芯片組中實施的快速序列非信令測試模式，可以與芯片組同步工作，消除信令開銷，實現單次采集多次測量。

“非信令測試是手機產業和測試儀表產業發展的必然趨勢”
---上海創遠儀器副總裁徐逢春

上海創遠儀器副總裁徐逢春向微波射頻網表示，手機的非信令測試，是近兩年逐步在產業界得到推廣的測試技術，是測試儀表公司和手機方案公司共同努力的結果，極大地提升了手機測試的速度和穩定性，提高了生產效率。

為全面支持手機產業對非信令測試的需求，創遠推出了T6280全制式手機綜測儀和T6281手機序列測試接口開關。T6280全制式終端綜合測試儀支持LTE（TDD/FDD）/WCDMA/TD-SCDMA/GSM等主流通信制式的信令/非信令測試功能，由于采用了業界領先的分布式系統架構，非信令測試速度達到業界領先水平。T6280采用專用的自動增益控制（AutoScale）技術，可以在一次測量中對手機的整個動態功率（通常為-65dBm～+27dBm）進行自動匹配和測量，達到最優化的測試精度和測試速度。

隨著手機單位測試時間的降低，手機生產線上操作員裝卸測試終端所占用的終測儀開銷越來越大，導致生產過程中昂貴的綜測儀表的空閑時間占比增加，為了解決該問題，創遠開創性地推出了T6281手機序列測試接口開關，可以對已有的手機生產線進行簡單改造，即可提升手機綜測儀的使用率接近100%，并極大提升人均的產出。

徐逢春分析，非信令測試是手機產業和測試儀表產業發展的必然趨勢，手機生產線上使用的手機綜測儀，將很快統一到非信令的模式。通過采用非信令測試，不僅儀器儀表的開支能夠有可觀的降低，更重要的是可以提高手機的測試速度和測試穩定性，由此可以為手機生產線帶來人工、場地、供電等一系列配套開支的節省。

“預計到今年，非信令測試將成主流測試方式。非信令測試市場的競爭也趨向白熱化。”
---安立公司產品經理蔣大勃

安立公司產品經理蔣大勃表示智能終端和平板電腦取得了巨大成功，在生產線上需要對這些產品進行快速的測試。同時，無線通信制式也在不斷的演進和發展，導致通信標準多樣化。非信令測試和傳統的信令測試相比，測試時間短，效率高。隨著芯片技術的成熟，近兩年以來，手機測試市場從傳統的信令測試開始向非信令測試演進。

為了滿足目前產線測試需求，安立公司推出了MT8870A 通用無線測試儀。該儀表可以支持多種無線標準，包括GSM/WCDMA/TDSCDMA/CDMA/LTE 和BT /WLAN，還可以支持FM RDS，GPS，DVB等。頻率范圍可達6GHz，160M帶寬，滿足了當前和以后的測試需求。MT8870A采用模塊化設計思想，可以安裝多至4個TRX模塊，具備同時測試多臺設備的能力，可大幅提高產線效率并降低成本。

蔣大勃認為，目前大多數廠家都已經采用非信令測試方案。預計到今年，非信令測試將成主流測試方式。非信令測試市場的競爭也趨向白熱化。

綜上所述，在LTE終端設備產測過程中采用非信令測試模式，可以顯著提高測試效率并降低測試成本，使得LTE終端設備制造商大為受益。而且，終端制造商仍可持續改良這些技術，實現更快、更具成本效益的測試方式。隨著LTE時代的到來，非信令測試正逐漸成熟，并將成為主流生產測試方式。

本文來源微波射頻網 原文鏈接：http://www.mwrf.net/news/marketwatch/2013/10938.html

總結

以上是生活随笔為你收集整理的应对LTE测试复杂化及成本挑战 非信令测试将成主流的全部內容，希望文章能夠幫你解決所遇到的問題。

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